Опис до патенту на корисну модель № 54458 "Спосіб визначення однакового рівня концентрації аероіонів від джерел направленого випромінювання"

Abstract

Спосіб визначення однакового рівня концентрації аероіонів від джерел направленого випромі-нювання, що полягає у визначенні відстаней від джерел направленого аероіонного випромінювання, який відрізняється тим, що визначення відстаней від двох джерел направленого аероіонного випромінювання відбувається одночасно з урахуванням висоти підвісу джерел