Tsatu logo
ISSN: 2524-0714

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.tsatu.edu.ua/handle/123456789/8223
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorВдовін, Б. В.-
dc.contributor.authorКурашкин, Сергей Федорович-
dc.contributor.authorКурашкін, Сергій Федорович-
dc.contributor.authorKurashkin, Serhii-
dc.date.accessioned2019-09-26T12:21:25Z-
dc.date.available2019-09-26T12:21:25Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.urihttp://elar.tsatu.edu.ua/handle/123456789/8223-
dc.description.abstractРозглянуті причини виникнення паразитних явищ, пов'язаних з ефектом Міллера у схемах з MOSFET і IGBT транзисторами та заходи щодо їх позбавлення.uk
dc.language.isoukuk
dc.publisherТДАТУuk
dc.relation.ispartofseriesПроблеми механізації та електрифікації технологічних процесів: матеріали VІ Всеукраїнської науково-технічної Інтернет-конференції молодих учених, магістрантів та студентів за підсумками наукових досліджень 2018 року;Вип. VІ (С.47-48)-
dc.subjectефект Міллераuk
dc.subjectMOSFETuk
dc.subjectIGBTuk
dc.subjectпроектування електронних схемuk
dc.subjectавтоматизація електротехнічних комплексівuk
dc.titleБоротьба з ефектом Міллера в схемах керування з MOSFET та IGBT транзисторамиuk
dc.typeWorking Paperuk
Appears in Collections:кафедра Електротехніка і електромеханіка ім. проф. В.В. Овчарова

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
СБОРНИК МЕА-2019-47-48.pdf292.52 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record ???jsp.display-item.check???


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.