Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.tsatu.edu.ua/handle/123456789/9405
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Строкань, Оксана Вікторівна | - |
dc.contributor.author | Строкань, Оксана Викторовна | - |
dc.contributor.author | Strokan, Oksana | - |
dc.contributor.author | Чураков, А. Я. | - |
dc.contributor.author | Івженко, Олександр Васильович | - |
dc.contributor.author | Ивженко, Александр Васильевич | - |
dc.contributor.author | Ivzhenko, Oleksandr | - |
dc.date.accessioned | 2020-01-30T13:46:36Z | - |
dc.date.available | 2020-01-30T13:46:36Z | - |
dc.date.issued | 2010 | - |
dc.identifier.uri | http://elar.tsatu.edu.ua/handle/123456789/9405 | - |
dc.description.abstract | Спосіб визначення однакового рівня концентрації аероіонів від джерел направленого випромі-нювання, що полягає у визначенні відстаней від джерел направленого аероіонного випромінювання, який відрізняється тим, що визначення відстаней від двох джерел направленого аероіонного випромінювання відбувається одночасно з урахуванням висоти підвісу джерел | uk |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher | Державний департамент інтелектуальної власності | uk |
dc.subject | аероіони | uk |
dc.subject | джерело направленого випромінювання | uk |
dc.subject | аероіонне випромінювання | uk |
dc.subject | іонно-електронна технологія | uk |
dc.subject | технічні системи іонізації | uk |
dc.title | Опис до патенту на корисну модель № 54458 "Спосіб визначення однакового рівня концентрації аероіонів від джерел направленого випромінювання" | uk |
dc.type | Other | uk |
Appears in Collections: | Патенти |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
getdocument (3).pdf | 142.6 kB | Adobe PDF | ![]() View/Open |
Show simple item record
CORE Recommender
???jsp.display-item.check???
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.