Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.tsatu.edu.ua/handle/123456789/10831
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Kidalov, V. V. | - |
dc.contributor.author | Кідалов, В. В. | - |
dc.contributor.author | Diadenchuk, Alona | - |
dc.contributor.author | Дяденчук, Альона Федорівна | - |
dc.contributor.author | Дяденчук, Алена Федоровна | - |
dc.contributor.author | Khrypko, S. L. | - |
dc.contributor.author | Хрипко, С. Л. | - |
dc.contributor.author | Khrypko, O. S. | - |
dc.contributor.author | Хрипко, О. С. | - |
dc.date.accessioned | 2020-05-27T06:50:04Z | - |
dc.date.available | 2020-05-27T06:50:04Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.uri | http://elar.tsatu.edu.ua/handle/123456789/10831 | - |
dc.description.abstract | EN: Was investigated the luminescent properties of the system ZnO:Al/SiO2/PorSi/Si, which was formed by the method of spray pyrolysis. The shift of the photoluminescence intensity at wavelengths of 350 - 450 nm happen due to the introduction of ZnO in porous silicon, the intensity increases with increasing concentration of aluminum from 1.5 at.% to 4.5 at.%. UK: Досліджено люмінесцентні властивості системи ZnO:Al/SiO2/PorSi/Si, яка була сформована методом розпилення піролізу. Зсув інтенсивності фотолюмінесценції на довжинах хвиль (350-450) нм відбувся через введення ZnO в поруватий кремній, причому, інтенсивність зростала зі збільшенням концентрації алюмінію від 1,5 ат.% до 4,5 ат.%. | uk |
dc.language.iso | en | uk |
dc.relation.ispartofseries | Physics and Chemistry of Solidstate;V. 18, № 2 (P. 180-183) | - |
dc.subject | nanotechnology | uk |
dc.subject | porous silicon | uk |
dc.subject | ZnO | uk |
dc.subject | doping | uk |
dc.subject | нанотехнологія | uk |
dc.subject | поруватий кремній | uk |
dc.subject | легування | uk |
dc.title | Investigation the Structures ZnO:Al/SiOx/PorSi/p-Si/Al | uk |
dc.title.alternative | Дослідження структур ZnO:Al/SiOx/PorSi/р-Si/Al | uk |
dc.type | Working Paper | uk |
Appears in Collections: | Кафедра Вища математика та фізика |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
1.1. Investigation the Structures ZnOAlSiOxPorSip-SiAl.pdf | 1.22 MB | Adobe PDF | View/Open |
Show simple item record
CORE Recommender
???jsp.display-item.check???
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.