Опис до патенту на корисну модель № 54458 "Спосіб визначення однакового рівня концентрації аероіонів від джерел направленого випромінювання" - Строкань, Оксана Вікторівна; Строкань, Оксана Викторовна; Strokan, Oksana; Чураков, А. Я.; Івженко, Олександр Васильович; Ивженко, Александр Васильевич; Ivzhenko, Oleksandr (Державний департамент інтелектуальної власності, 2010)
Спосіб визначення однакового рівня концентрації аероіонів від джерел направленого випромі-нювання, що полягає у визначенні відстаней від джерел направленого аероіонного випромінювання, який відрізняється тим, що визначення відстаней від двох джерел направленого аероіонного випромінювання відбувається одночасно з урахуванням висоти підвісу джерел
Keywords: аероіони; джерело направленого випромінювання; аероіонне випромінювання; іонно-електронна технологія; технічні системи іонізації